画像化技術：磁化の新しい観察方法

薄膜磁性体の二次元磁化パターンを画像化する技術はかなり以前から存在しているが、厚い磁性体内部の複雑な三次元磁化構造を直接調べることは容易でない。今回C Donnellyたちは、硬X線トモグラフィーを利用してマイクロメートルサイズの磁性体内部の磁気構造を決定し、この困難を克服する上での大きな前進をもたらしている。現在のX線源の特性により空間分解能は約100 nmにとどまっているものの、今後の装置の開発によって、空間分解能は大幅に改善する可能性があると思われる。

目次へ戻る