量子情報：ウエハーレベルのスピンキュービットデバイスの検査

シリコン系の量子コンピューターは、相補型金属–酸化物–半導体（CMOS）製造に依拠して大規模化できる可能性があるため魅力的である。しかし、古典的な電子デバイスの製造のための従来の「検査と最適化（test-and-optimize）」手法がそのまま量子デバイスに移行できないため、これは容易ではない。今回、極低温環境のままウエハーレベルでスピンキュービットを検査し、製造した量子デバイスアレイのばらつきと乱れを大幅に低減できる手法が報告されている。一連の結果から、スピンキュービットの自動化された高歩留まり製造に向けてCMOSの可能性を具体的に利用する方法が得られた。

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