Nature ハイライト

エレクトロニクス:2D材料への電子の侵入場所を直接見る

Nature 655, 8122

今回、断面走査型トンネル顕微鏡を用いて、電荷キャリアが金属コンタクトから二次元(2D)半導体に入る場所を直接測定できることが示されている。この領域のサイズは伝送長として知られ、コンタクト、ひいては2Dトランジスターをどこまで小さくできるかを決めるものであるため、重要な情報である。

2026年7月9日号の Nature ハイライト

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