리서치 하이라이트

3차원 자기화 구조를 통한 X-선 나노단층촬영

Nature 547, 7663

박막 필름에서의 2차원 자기화 패턴에 대한 이미지 촬영은 오랫동안 존재해왔던 테크닉이지만, 자석 내에 존재하는 자기화 구조에 대한 3차원 복잡성은 직접적인 연구의 대상으로 다루는 것은 어려웠다. Claire Donnely 등은 X-선 단층촬영을 이용하여, 마이크로미터 크기의 자석의 내부 자기적 구조를 판단하기 위해서 x선 단층촬영 통해서 이와 같이 모호한 부분을 해소하기 위해 기술적인 진전을 시켰다. 현재의 X-선원은 100나노미터로 해상도가 제한되어 있지만, 향후 해상도가 놀라울 정도로 발달할 것으로 추정된다.