리서치 하이라이트

스핀 앵글과 기존 한계를 넘는 증폭에 대한 동시 추적

Nature 543, 7646

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도량형 측정의 정밀성을 강화하기 위해서 이용되는 다양한 양자 시스템은 위치와 모멘텀과 같은 컨주게이트 변수에 적용되는 불확실성 상관성이 일반적인 하이젠베르크 불확실성을 따른다. 이러한 시스템은 다른 변수의 큰 불확실성을 사용하여 하나의 변수의 불확실성을 감소시키기 위해 “압축(squeeze)”할 수 있다. 하지만, 스핀 시스템과 가짜 스핀 시스템은 서로 다른 불확실성 상관성을 따르는데, 이는 이들의 대칭성에 의해서 나타난다. 이러한 상관성에 기초하여, 저자들은 기본적인 한계를 넘어서는 스핀 증폭 및 스핀 앵글에 대한 동시 측정을 시연하였다. 이러한 접근 방법은 스핀 기반 센서에 응용 가능성이 있으며, 스핀 완화 속도가 높은 정밀도를 가진 자기 반응 측정과 같은 응용 분야에서의 민감도를 높여 줄 수 있을 것으로 보인다.

Letter p.525
doi | 10.1038/nature21434 | 전문   | PDF

2017년3월23일 자의 네이처 하이라이트