리서치 하이라이트

커버스토리: AFM을 이용한 표면 구조 분석

Nature 446, 7131

DFM(Dynamic Force Microscopy)은 AFM(Atomic Force Microscope)의 진동하는 팁(tip)과 표면 간의 상호 작용하는 힘을 검출하는 것을 통해 작동하며, 절연체, 반도체, 그리고 금속 표면에 대한 진정한 원자 단위의 해상도를 얻는 것이 가능하다. 이번 주 네이처의 획기적인 결과에서 다양한 물질들이 혼합되어 있는 시스템에서 단일 원자에 대한 화학적 분석에 이용하는 방법이 발표되었다. 새로운 방법에는 탐침된 원자와 AFM 팁 간의 단파 화학 에너지의 정확한 정량이 가능하며, 이를 통해 냉동 및 상온 상태에서 사용하는데 적합한 방법을 제공하고 있다. 표지 사진 : 실리콘(적색)과 주석(청색), 그리고 납(녹색) 원자가 동일한 비율로 실리콘(111) 기질 위에 만들어진 합금의 표면에 대한 지형도 이미지. 이와 같은 원자 확인 시스템은 촉매, 재료 과학, 그리고 반도체 분야에 까지 광범위한 응용분야에 적용할 수 있을 것으로 보인다.