리서치 하이라이트

나노 결정 내에서의 왜곡을 검출하는 3차원 맵핑

Nature 442, 7098

전자 가속기에 의해서 생성된 싱크로트론 X-선 방사선은 매우 폭이 좁으면서 응집성을 가진 빔을 만드는데 이용되었다. 이러한 X-선은 나노미터 크기의 결정을 비췄을 때, 매우 응집성이 높은 결정 이미지가 나타났다. 이러한 연구 결과는 구조 분석에 이용될 수 있는 매우 강력한 도구를 제공하였으며, 외부 지원이 가능한 접촉으로부터 기인한 결정 내에서 아-원자 왜곡으로 해석될 수 있었다.