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리서치 하이라이트

스핀 앵글과 기존 한계를 넘는 증폭에 대한 동시 추적

Nature 543, 7646

도량형 측정의 정밀성을 강화하기 위해서 이용되는 다양한 양자 시스템은 위치와 모멘텀과 같은 컨주게이트 변수에 적용되는 불확실성 상관성이 일반적인 하이젠베르크 불확실성을 따른다. 이러한 시스템은 다른 변수의 큰 불확실성을 사용하여 하나의 변수의 불확실성을 감소시키기 위해 “압축(squeeze)”할 수 있다. 하지만, 스핀 시스템과 가짜 스핀 시스템은 서로 다른 불확실성 상관성을 따르는데, 이는 이들의 대칭성에 의해서 나타난다. 이러한 상관성에 기초하여, 저자들은 기본적인 한계를 넘어서는 스핀 증폭 및 스핀 앵글에 대한 동시 측정을 시연하였다. 이러한 접근 방법은 스핀 기반 센서에 응용 가능성이 있으며, 스핀 완화 속도가 높은 정밀도를 가진 자기 반응 측정과 같은 응용 분야에서의 민감도를 높여 줄 수 있을 것으로 보인다.