전자 현미경으로 이미지화한 단일 결함(Single defect) 포논(Phonon)

결정 결함(Crystal defects)은 포논(Phonon)과 상호작용하여 고체의 열적 특성에 영향을 주지만 대부분의 포논 검출 실험법에는 필요한 공간 해상도(Spatial resolution)가 부족하기 때문에 이러한 상호작용을 직접 조사하기 어려웠다. Xiaoqing Pan과 연구진들은 투과 전자 현미경의 진동 분광법이 개별 결정 결함의 진동 스펙트럼을 Mapping 할 수 있음을 보여 주어 입방 실리콘 카바이드(Cubic silicon carbide)의 적층 결함(Stacking fault) 근처의 음향 진동 모드는 적층 결함의 수 나노 미터. 내에 국한된 에너지와 강도의 변화가 나타날 수 있음을 보여주었다. 따라서 최첨단 투과 전자 현미경은 결함 주변의 포논 전파를 직접 Mapping 할 수 있게 해줌으로써 물질의 열적 특성 엔지니어링을 가이드할 수 있다.